手持微歐計(jì)在GIS開(kāi)關(guān)柜回路電阻測(cè)試中的規(guī)范操作流程
2026年中國(guó)電力科學(xué)研究院發(fā)布的《10-500kV GIS開(kāi)關(guān)柜運(yùn)行故障統(tǒng)計(jì)報(bào)告》顯示,由觸頭、母線接觸不良引發(fā)的發(fā)熱擊穿故障占GIS開(kāi)關(guān)柜總故障的37.2%,是影響電力系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的核心隱患之一【1】。回路電阻測(cè)試作為排查該類隱患的直接手段,是電力設(shè)備檢測(cè)環(huán)節(jié)的必做項(xiàng)目,而手持微歐計(jì)憑借便攜性高、測(cè)試速度快、對(duì)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境要求低的優(yōu)勢(shì),已經(jīng)成為GIS開(kāi)關(guān)柜現(xiàn)場(chǎng)回路電阻測(cè)試的主流設(shè)備。一、應(yīng)用場(chǎng)景導(dǎo)
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